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电子数显卡尺检测

[2025-03-05] 计量校准检测

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检验报告


检测对象
电子数显卡尺检测

检测项目:

两刀口内量爪相对平面间的间隙,两外测量面的合并间隙,两测量爪伸出长度差,刀口形内测量爪的尺寸偏差,刀口形内测量爪的平行度,响应速度,圆弧形内测量爪尺寸偏差,圆弧形内测量爪的平行度,外测量示值误差,外测量面的平面度,工作电流,抗电磁干扰实验,抗静电干扰实验,数值漂移,测台示值误差,测深示值误差,测量面的硬度,温度变化实验,湿热实验,重复性,防尘、防水实验,外测量面的平行度,全部项目,电子数显卡尺检定校准

 

检测标准:

1、GB/T 21389-2008 《游标、带表和数显卡尺》 GB/T21389-2008

2、JJG 30 通用卡尺检定规程

3、GB/T21389-2008 《游标、带表和数显卡尺》 5.15.2.1

检验流程


 
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